量子器件

支持量子革命:从发现到制造

  • 说明

  • 量子器件对精度和可重复性的要求远超传统微加工。相干时间和器件性能取决于微观特征、界面和对准,因此光刻必须提供高均匀性和真正的叠合精度,以确保多层器件的可靠性。Heidelberg Instruments 提供一系列无掩模和直接写入光刻解决方案,专为解决量子器件生命周期各阶段的制造挑战而设计。

    为什么光刻对量子器件至关重要

    • 保护相干性:光刻步骤中产生的微观缺陷、边缘粗糙或对准误差会直接引入噪声和退相干,从而限制量子比特的性能。
    • 高保真 2.5D 图案化:许多量子架构需要垂直/拓扑控制以及横向分辨率。
    • 多层对准:多层布线、结点和光子堆叠需要精确的叠合。
    • 规模化而不妥协:从单量子比特实验扩展到数千或数百万量子比特,需要具有严格公差和高产能的可制造工艺。

    根据您的开发路径提供解决方案

    探索与基础研究:NanoFrazor

    当您需要对新型器件概念实现最高保真度时,NanoFrazor 的热扫描探针光刻(t-SPL)可为纳米级和 2.5D 特征提供无与伦比的控制。

    • 通过闭环光刻(原位成像 + 反馈)实现亚 2 纳米垂直精度——非常适合灰度拓扑结构和精确隧道势垒。
    • 直接写入并检查:同时进行写入和成像,可在制造过程中验证结构。
    • 针对性器件制造:量子点、约瑟夫森结、图案化的一维/二维材料。
    • 消除湿化学不确定性,最大限度地减少对敏感材料的工艺损伤。

    快速原型制作与多用户研发:DWL 66+ 和 MLA 150

    速度与灵活性加快了迭代周期,使创新架构能够快速探索。无掩模工作流程消除了周转时间和掩模成本。

    DWL 66+
    • 高分辨率直接写入,最小特征尺寸可达约 200 纳米——快速 CAD 到基底工作流程。
    • 通过使用 DWL 处理较大特征和原型来减少电子束工作量,同时将电子束保留用于最小、最慢的任务。
    MLA 150
    • 交互式“绘图模式”,可在独特的薄片和异质结构上精确放置电极。
    • 先进对准,采用数字补偿偏移、旋转和缩放——对多层量子堆叠至关重要。
    • 为多用户设施设计,具备高运行时间、快速上手(<1 小时)和易于操作的特点。

    规模与生产:ULTRA、VPG+和MLA 300

    当器件设计得到验证时,制造需要可靠、可重复且高产能的光刻工艺。

    • 面向生产的纳米级精度和高叠合精度,适用于多层超导电路、光子量子芯片和量子点阵列。
    • 稳健的机械平台(气浮台、差分干涉仪)提供卓越的对准精度和可重复性。
    • 全自动化与掩模处理,可缩短周期时间并确保大规模生产中的一致产量。
    • MLA 300 实现了量子芯片的高级封装。

    技术差异化:我们的优势所在

    • 产品组合连续性:工具可从单量子比特实验无缝扩展到大规模生产,保持工艺连续性。
    • 闭环计量:原位成像与反馈(NanoFrazor)以减少工艺不确定性。
    • 高叠合和对准精度:仪器设计选择(气浮台、干涉仪和主动热补偿)专为多层量子电路而设计。
    • 无掩模灵活性:快速迭代、减少工具瓶颈并降低原型开发成本。
    • 应用专长:我们与研究实验室和制造商合作,为超导、光子和二维材料平台调整工艺流程。

    告诉我们您的平台类型(超导、光子、自旋/半导体、二维),我们将推荐最佳工具链和工艺方案。请联系专家讨论您的器件需求或索取详细规格。

  • 要求

  • 超高分辨率图案化,用于定义清晰的结构(例如隧穿间隙或等离激元腔体)。

    无损光刻,对量子材料(例如拓扑绝缘体)无不良影响。

    在位置未知的低维材料上(如二维材料薄片、分散纳米线等)快速且精确地放置电极。

    灰度环境和拓扑结构对于微调量子器件中的光子相互作用至关重要。

    在动态研究领域中,快速原型制作是一大优势。

  • 解决方案

  • 超高分辨率

    用于实现低边缘粗糙度的清晰特征和间隙

    无损纳米光刻(NanoFrazor)

    非破坏性技术,无需使用高能带电束,可用于处理敏感材料

    精确叠合

    可通过在拓扑或光学图像上直接绘制电极实现(NanoFrazor 与 MLA 系列)。

    精确灰度光刻

    用于控制灰度拓扑结构,精度可达单纳米级

量子器件对精度和可重复性的要求远超传统微加工。相干时间和器件性能取决于微观特征、界面和对准,因此光刻必须提供高均匀性和真正的叠合精度,以确保多层器件的可靠性。Heidelberg Instruments 提供一系列无掩模和直接写入光刻解决方案,专为解决量子器件生命周期各阶段的制造挑战而设计。

为什么光刻对量子器件至关重要

  • 保护相干性:光刻步骤中产生的微观缺陷、边缘粗糙或对准误差会直接引入噪声和退相干,从而限制量子比特的性能。
  • 高保真 2.5D 图案化:许多量子架构需要垂直/拓扑控制以及横向分辨率。
  • 多层对准:多层布线、结点和光子堆叠需要精确的叠合。
  • 规模化而不妥协:从单量子比特实验扩展到数千或数百万量子比特,需要具有严格公差和高产能的可制造工艺。

根据您的开发路径提供解决方案

探索与基础研究:NanoFrazor

当您需要对新型器件概念实现最高保真度时,NanoFrazor 的热扫描探针光刻(t-SPL)可为纳米级和 2.5D 特征提供无与伦比的控制。

  • 通过闭环光刻(原位成像 + 反馈)实现亚 2 纳米垂直精度——非常适合灰度拓扑结构和精确隧道势垒。
  • 直接写入并检查:同时进行写入和成像,可在制造过程中验证结构。
  • 针对性器件制造:量子点、约瑟夫森结、图案化的一维/二维材料。
  • 消除湿化学不确定性,最大限度地减少对敏感材料的工艺损伤。

快速原型制作与多用户研发:DWL 66+ 和 MLA 150

速度与灵活性加快了迭代周期,使创新架构能够快速探索。无掩模工作流程消除了周转时间和掩模成本。

DWL 66+
  • 高分辨率直接写入,最小特征尺寸可达约 200 纳米——快速 CAD 到基底工作流程。
  • 通过使用 DWL 处理较大特征和原型来减少电子束工作量,同时将电子束保留用于最小、最慢的任务。
MLA 150
  • 交互式“绘图模式”,可在独特的薄片和异质结构上精确放置电极。
  • 先进对准,采用数字补偿偏移、旋转和缩放——对多层量子堆叠至关重要。
  • 为多用户设施设计,具备高运行时间、快速上手(<1 小时)和易于操作的特点。

规模与生产:ULTRA、VPG+和MLA 300

当器件设计得到验证时,制造需要可靠、可重复且高产能的光刻工艺。

  • 面向生产的纳米级精度和高叠合精度,适用于多层超导电路、光子量子芯片和量子点阵列。
  • 稳健的机械平台(气浮台、差分干涉仪)提供卓越的对准精度和可重复性。
  • 全自动化与掩模处理,可缩短周期时间并确保大规模生产中的一致产量。
  • MLA 300 实现了量子芯片的高级封装。

技术差异化:我们的优势所在

  • 产品组合连续性:工具可从单量子比特实验无缝扩展到大规模生产,保持工艺连续性。
  • 闭环计量:原位成像与反馈(NanoFrazor)以减少工艺不确定性。
  • 高叠合和对准精度:仪器设计选择(气浮台、干涉仪和主动热补偿)专为多层量子电路而设计。
  • 无掩模灵活性:快速迭代、减少工具瓶颈并降低原型开发成本。
  • 应用专长:我们与研究实验室和制造商合作,为超导、光子和二维材料平台调整工艺流程。

告诉我们您的平台类型(超导、光子、自旋/半导体、二维),我们将推荐最佳工具链和工艺方案。请联系专家讨论您的器件需求或索取详细规格。

超高分辨率图案化,用于定义清晰的结构(例如隧穿间隙或等离激元腔体)。

无损光刻,对量子材料(例如拓扑绝缘体)无不良影响。

在位置未知的低维材料上(如二维材料薄片、分散纳米线等)快速且精确地放置电极。

灰度环境和拓扑结构对于微调量子器件中的光子相互作用至关重要。

在动态研究领域中,快速原型制作是一大优势。

超高分辨率

用于实现低边缘粗糙度的清晰特征和间隙

无损纳米光刻(NanoFrazor)

非破坏性技术,无需使用高能带电束,可用于处理敏感材料

精确叠合

可通过在拓扑或光学图像上直接绘制电极实现(NanoFrazor 与 MLA 系列)。

精确灰度光刻

用于控制灰度拓扑结构,精度可达单纳米级

应用图像

合适的系统

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