量子器件
支持量子革命:从发现到制造
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说明
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量子器件对精度和可重复性的要求远超传统微加工。相干时间和器件性能取决于微观特征、界面和对准,因此光刻必须提供高均匀性和真正的叠合精度,以确保多层器件的可靠性。Heidelberg Instruments 提供一系列无掩模和直接写入光刻解决方案,专为解决量子器件生命周期各阶段的制造挑战而设计。
为什么光刻对量子器件至关重要
- 保护相干性:光刻步骤中产生的微观缺陷、边缘粗糙或对准误差会直接引入噪声和退相干,从而限制量子比特的性能。
- 高保真 2.5D 图案化:许多量子架构需要垂直/拓扑控制以及横向分辨率。
- 多层对准:多层布线、结点和光子堆叠需要精确的叠合。
- 规模化而不妥协:从单量子比特实验扩展到数千或数百万量子比特,需要具有严格公差和高产能的可制造工艺。
根据您的开发路径提供解决方案
探索与基础研究:NanoFrazor
当您需要对新型器件概念实现最高保真度时,NanoFrazor 的热扫描探针光刻(t-SPL)可为纳米级和 2.5D 特征提供无与伦比的控制。
- 通过闭环光刻(原位成像 + 反馈)实现亚 2 纳米垂直精度——非常适合灰度拓扑结构和精确隧道势垒。
- 直接写入并检查:同时进行写入和成像,可在制造过程中验证结构。
- 针对性器件制造:量子点、约瑟夫森结、图案化的一维/二维材料。
- 消除湿化学不确定性,最大限度地减少对敏感材料的工艺损伤。
快速原型制作与多用户研发:DWL 66+ 和 MLA 150
速度与灵活性加快了迭代周期,使创新架构能够快速探索。无掩模工作流程消除了周转时间和掩模成本。
DWL 66+
- 高分辨率直接写入,最小特征尺寸可达约 200 纳米——快速 CAD 到基底工作流程。
- 通过使用 DWL 处理较大特征和原型来减少电子束工作量,同时将电子束保留用于最小、最慢的任务。
MLA 150
- 交互式“绘图模式”,可在独特的薄片和异质结构上精确放置电极。
- 先进对准,采用数字补偿偏移、旋转和缩放——对多层量子堆叠至关重要。
- 为多用户设施设计,具备高运行时间、快速上手(<1 小时)和易于操作的特点。
规模与生产:ULTRA、VPG+和MLA 300
当器件设计得到验证时,制造需要可靠、可重复且高产能的光刻工艺。
- 面向生产的纳米级精度和高叠合精度,适用于多层超导电路、光子量子芯片和量子点阵列。
- 稳健的机械平台(气浮台、差分干涉仪)提供卓越的对准精度和可重复性。
- 全自动化与掩模处理,可缩短周期时间并确保大规模生产中的一致产量。
- MLA 300 实现了量子芯片的高级封装。
技术差异化:我们的优势所在
- 产品组合连续性:工具可从单量子比特实验无缝扩展到大规模生产,保持工艺连续性。
- 闭环计量:原位成像与反馈(NanoFrazor)以减少工艺不确定性。
- 高叠合和对准精度:仪器设计选择(气浮台、干涉仪和主动热补偿)专为多层量子电路而设计。
- 无掩模灵活性:快速迭代、减少工具瓶颈并降低原型开发成本。
- 应用专长:我们与研究实验室和制造商合作,为超导、光子和二维材料平台调整工艺流程。
告诉我们您的平台类型(超导、光子、自旋/半导体、二维),我们将推荐最佳工具链和工艺方案。请联系专家讨论您的器件需求或索取详细规格。
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要求
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超高分辨率图案化,用于定义清晰的结构(例如隧穿间隙或等离激元腔体)。
无损光刻,对量子材料(例如拓扑绝缘体)无不良影响。
在位置未知的低维材料上(如二维材料薄片、分散纳米线等)快速且精确地放置电极。
灰度环境和拓扑结构对于微调量子器件中的光子相互作用至关重要。
在动态研究领域中,快速原型制作是一大优势。
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解决方案
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超高分辨率
用于实现低边缘粗糙度的清晰特征和间隙无损纳米光刻(NanoFrazor)
非破坏性技术,无需使用高能带电束,可用于处理敏感材料精确叠合
可通过在拓扑或光学图像上直接绘制电极实现(NanoFrazor 与 MLA 系列)。精确灰度光刻
用于控制灰度拓扑结构,精度可达单纳米级
量子器件对精度和可重复性的要求远超传统微加工。相干时间和器件性能取决于微观特征、界面和对准,因此光刻必须提供高均匀性和真正的叠合精度,以确保多层器件的可靠性。Heidelberg Instruments 提供一系列无掩模和直接写入光刻解决方案,专为解决量子器件生命周期各阶段的制造挑战而设计。
为什么光刻对量子器件至关重要
- 保护相干性:光刻步骤中产生的微观缺陷、边缘粗糙或对准误差会直接引入噪声和退相干,从而限制量子比特的性能。
- 高保真 2.5D 图案化:许多量子架构需要垂直/拓扑控制以及横向分辨率。
- 多层对准:多层布线、结点和光子堆叠需要精确的叠合。
- 规模化而不妥协:从单量子比特实验扩展到数千或数百万量子比特,需要具有严格公差和高产能的可制造工艺。
根据您的开发路径提供解决方案
探索与基础研究:NanoFrazor
当您需要对新型器件概念实现最高保真度时,NanoFrazor 的热扫描探针光刻(t-SPL)可为纳米级和 2.5D 特征提供无与伦比的控制。
- 通过闭环光刻(原位成像 + 反馈)实现亚 2 纳米垂直精度——非常适合灰度拓扑结构和精确隧道势垒。
- 直接写入并检查:同时进行写入和成像,可在制造过程中验证结构。
- 针对性器件制造:量子点、约瑟夫森结、图案化的一维/二维材料。
- 消除湿化学不确定性,最大限度地减少对敏感材料的工艺损伤。
快速原型制作与多用户研发:DWL 66+ 和 MLA 150
速度与灵活性加快了迭代周期,使创新架构能够快速探索。无掩模工作流程消除了周转时间和掩模成本。
DWL 66+
- 高分辨率直接写入,最小特征尺寸可达约 200 纳米——快速 CAD 到基底工作流程。
- 通过使用 DWL 处理较大特征和原型来减少电子束工作量,同时将电子束保留用于最小、最慢的任务。
MLA 150
- 交互式“绘图模式”,可在独特的薄片和异质结构上精确放置电极。
- 先进对准,采用数字补偿偏移、旋转和缩放——对多层量子堆叠至关重要。
- 为多用户设施设计,具备高运行时间、快速上手(<1 小时)和易于操作的特点。
规模与生产:ULTRA、VPG+和MLA 300
当器件设计得到验证时,制造需要可靠、可重复且高产能的光刻工艺。
- 面向生产的纳米级精度和高叠合精度,适用于多层超导电路、光子量子芯片和量子点阵列。
- 稳健的机械平台(气浮台、差分干涉仪)提供卓越的对准精度和可重复性。
- 全自动化与掩模处理,可缩短周期时间并确保大规模生产中的一致产量。
- MLA 300 实现了量子芯片的高级封装。
技术差异化:我们的优势所在
- 产品组合连续性:工具可从单量子比特实验无缝扩展到大规模生产,保持工艺连续性。
- 闭环计量:原位成像与反馈(NanoFrazor)以减少工艺不确定性。
- 高叠合和对准精度:仪器设计选择(气浮台、干涉仪和主动热补偿)专为多层量子电路而设计。
- 无掩模灵活性:快速迭代、减少工具瓶颈并降低原型开发成本。
- 应用专长:我们与研究实验室和制造商合作,为超导、光子和二维材料平台调整工艺流程。
告诉我们您的平台类型(超导、光子、自旋/半导体、二维),我们将推荐最佳工具链和工艺方案。请联系专家讨论您的器件需求或索取详细规格。
超高分辨率图案化,用于定义清晰的结构(例如隧穿间隙或等离激元腔体)。
无损光刻,对量子材料(例如拓扑绝缘体)无不良影响。
在位置未知的低维材料上(如二维材料薄片、分散纳米线等)快速且精确地放置电极。
灰度环境和拓扑结构对于微调量子器件中的光子相互作用至关重要。
在动态研究领域中,快速原型制作是一大优势。
超高分辨率
无损纳米光刻(NanoFrazor)
精确叠合
精确灰度光刻
应用图像









合适的系统
DWL 66+ 激光直写光刻系统
- 直接写入激光光刻系统
我们最通用的研究和原型制作系统,具有可变分辨率和多种选项。
DWL 2000 GS / DWL 4000 GS 激光直写光刻系统
- 直接写入激光光刻系统
市场上最先进的工业灰度光刻工具。
MLA 150 无掩模光刻系统
- 无掩膜对准器
用于快速原型制作的最快无掩模工具,是掩模校准器的替代品。非常适合标准二进制光刻。
NanoFrazor 纳米制造系统
- 热扫描探针光刻系统
多功能模块化工具,结合热扫描探针光刻、直接激光升华及先进自动化技术,助力前沿研发。
VPG+ 200、VPG+ 400 和 VPG+ 800 三维图案生成器
- 音量模式发生器
适用于 i-line 光刻胶的标准光掩膜和微结构的强大生产工具。
ULTRA 半导体掩模直写系统
- 激光掩膜书写器
专门设计用于生产成熟半导体光掩膜的工具。
