半導体のイノベーションを強化:Heidelberg Instruments' 精密リソグラフィ・ツール

  • 説明

  • 半導体は、電圧、熱、光などの外的要因にさらされることで電気伝導性を変化させる特性を持っています。現代のテクノロジーにおける電子機器の基盤として重要な役割を果たしています。半導体デバイスは、さまざまな材料で構成されたウェーハ上に構築されます。一部のウェーハはシリコンのような単一元素で構成されていますが、その他のウェーハは複数の元素を組み合わせた複雑な結晶構造を形成しており、化合物半導体に見られるような独自の電子特性を持っています。

    フォトリソグラフィは、半導体製造における重要なプロセスであり、マスクやダイレクトライティング技術を用いて、正確なパターンをウェーハ上に転写します。これは、集積回路やその他の半導体デバイスの基盤となる複雑な構造を形成するうえで、極めて重要な役割を果たします。

    Heidelberg Instruments は、半導体デバイスの製造における複数の重要な工程に対応する装置を提供しています。高精度かつ高均一性が求められるレチクルの作製から、アダプティブパターンニングによる高スループットなマスクレス露光まで対応可能です。これらのレーザーリソグラフィ装置は、フォトレジストでコーティングされた表面へのダイレクトライティングを可能にすることで、高速な試作やカスタマイズを実現する柔軟性を備えています。高精度なアライメント機能により、多層デバイスの製造を支援し、個々のダイのずれや変形にも対応可能です。これにより、半導体パッケージングにも適しています。

  • 必要条件

  • 高品質レジスト

    高い均一性と一貫性

    高いスループット

    既存プロセスとの互換性

    アライメントとオーバーレイの精度

  • ソリューション

  • 優れたTEM00認定レーザー

    典型的な半導体用レジスト(ULTRAおよびVPG+)用

    環境制御:

    自己校正機能付き計測システム

    干渉計による位置測定:

    リアルタイム・ステージマップ補正

    第2層アライメント < 100 nm

    (ウルトラ)

    反った基板の取り扱い

    (MLA 300)

半導体は、電圧、熱、光などの外的要因にさらされることで電気伝導性を変化させる特性を持っています。現代のテクノロジーにおける電子機器の基盤として重要な役割を果たしています。半導体デバイスは、さまざまな材料で構成されたウェーハ上に構築されます。一部のウェーハはシリコンのような単一元素で構成されていますが、その他のウェーハは複数の元素を組み合わせた複雑な結晶構造を形成しており、化合物半導体に見られるような独自の電子特性を持っています。

フォトリソグラフィは、半導体製造における重要なプロセスであり、マスクやダイレクトライティング技術を用いて、正確なパターンをウェーハ上に転写します。これは、集積回路やその他の半導体デバイスの基盤となる複雑な構造を形成するうえで、極めて重要な役割を果たします。

Heidelberg Instruments は、半導体デバイスの製造における複数の重要な工程に対応する装置を提供しています。高精度かつ高均一性が求められるレチクルの作製から、アダプティブパターンニングによる高スループットなマスクレス露光まで対応可能です。これらのレーザーリソグラフィ装置は、フォトレジストでコーティングされた表面へのダイレクトライティングを可能にすることで、高速な試作やカスタマイズを実現する柔軟性を備えています。高精度なアライメント機能により、多層デバイスの製造を支援し、個々のダイのずれや変形にも対応可能です。これにより、半導体パッケージングにも適しています。

高品質レジスト

高い均一性と一貫性

高いスループット

既存プロセスとの互換性

アライメントとオーバーレイの精度

優れたTEM00認定レーザー

典型的な半導体用レジスト(ULTRAおよびVPG+)用

環境制御:

自己校正機能付き計測システム

干渉計による位置測定:

リアルタイム・ステージマップ補正

第2層アライメント < 100 nm

(ウルトラ)

反った基板の取り扱い

(MLA 300)

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